1樓：匿名使用者
四探針法測電阻率其實從專業角度來說，就是使用專業的高溫四探針測量系統來測量。該系統包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、高溫電阻率測量軟體。
三琦高溫四探針測量系統是為了滿足材料在高溫環境下的阻抗特性測量需求而設計的。它由硬體裝置和測量軟體組成，包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統軟體四個組成部分。
高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環境；高溫四探針夾具提供待測試樣品的測試平臺；電阻率測試儀則負責測試引數資料。最後，再通過測量軟體將這些硬體裝置的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設計到溫度控制、引數測量、圖形資料顯示與資料分析於一體的高溫電阻率測量系統。
2樓：匿名使用者
薄膜材料一般都是用四探針法來確定面電阻率的吧
利用直流四探針法測量半導體的電阻率
一,測試原理:
當四根金屬探針排成一條直線,並以一定壓力壓在半導體材料上時,在1,4兩根探針間通過電流i,則2,3探針間產生電位差v(如圖所示).
根據公式可計算出材料的電阻率:
其中,c為四探針的探針係數(cm),它的大小取決於四根探針的排列方法和針距.
二,儀器操作:
(一)測試前的準備:
1,將電源插頭插入儀器背面的電源插座,電源開關置於斷開位置;
2,工作方式開關置於"短路"位置,電流開關處於彈出位置;
3,將手動測試架的遮蔽線插頭與電氣箱的輸入插座連線好;
4,對測試樣品進行一定的處理(如噴沙,清潔等);
5,調節室內溫度及溼度使之達到測試要求.
(二)測試:
首先將電源開關置於開啟位置,測量選擇開關置於"短路",出現數字顯示,通電預熱半小時.
1,放好樣品,壓下探頭,將測量選擇開關置於"測量"位置,極性開關置於開關上方;
2,選擇適當的電壓量程和電流量程,數字顯示基本為"0000",若末位有數字,可旋轉調零調節旋鈕使之顯示為"0000";
3,將工作方式開關置於"i調節",按下電流開關,旋動電流調節旋鈕,使數字顯示為"1000",該值為各電流量程的滿量程值;
4,再將極性開關壓下,使數顯也為1000±1,退出電流開關,將工作方式開關置於1或6.28處(探頭間距為1.59mm時置於1位置,間距為1mm時置於6.28位置);
(調節電流後,上述步驟在以後的測量中可不必重複;只要調節好後,按下電流開關,可由數顯直接讀出測量值.)
5,若數顯熄滅,僅剩"1",表示超出該量程電壓值,可將電壓量程開關撥到更高檔;
6,讀數後,將極性開關撥至另一方,可讀出負極性時的測量值,將兩次測量值取平均數即為樣品在該處的電阻率值.
三,注意事項:
1,壓下探頭時,壓力要適中,以免損壞探針;
2,由於樣品表面電阻可能分佈不均,測量時應對一個樣品多測幾個點,然後取平均值;
3,樣品的實際電阻率還與其厚度有關,還需查附錄中的厚度修正係數,進行修正.
高溫四探針測量系統是四探針法測電阻率嗎？
3樓：匿名使用者
高溫四探針測量系統就是採用四探針法測電阻率的。
三琦高溫四探針測量系統是為了滿足材料在高溫環境下的阻抗特性測量需求而設計的。
它由硬體裝置和測量軟體組成，包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統軟體四個組成部分。
4樓：匿名使用者
選最大的，看偏轉，進行估算，如果幾乎不動，就換2號大的估測
四探針電阻率測試儀主要是測什麼電阻率的？
5樓：蘇州晶格電子
四探針電阻率測試儀配合不同的探頭可以測的材料也不同。配高耐磨的碳化鎢探針探頭，以測試矽等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率；配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或pe膜等基底上導電塗層膜，如金屬鍍膜、噴塗膜、ito膜、電容卷積膜等材料的薄膜塗層電阻率；配專用箔上塗層探頭，也可測試鋰電池電池極片等箔上塗層電阻率。
6樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀也有很多種，例如高溫的或者常溫的，不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的引數也是不同的。舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電效能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
7樓：匿名使用者
四探針測試儀測矽片電阻率時，n型和p型的矽片都可以測。
比如用於做電力元件的矽片是n型的，用於做太陽能電池的矽片是p型的（有的），這些矽片用四探針測試儀都能測。
8樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀,依據樣品性質不同，測試量程也不同，一般分為：
ft-361低量程，用於測量低阻性塗層，薄膜，鋁箔等半導體材料，方阻量程：10^6～2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^7～2×10^6ω-cm
ft-341通用型中間段量程；可以測量大部分半導體材料；
方阻量程：10^5～2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^6～2×10^6ω-cm
3.ft-371高阻性半導體基底層
方阻量程：10^4～1×10^7ω/□；電阻率範圍10^5～2×10^8ω-cm
9樓：匿名使用者
主要是測方塊電阻,可以換算電阻率
高溫電阻率測量系統主要是測什麼材料的電阻率？
10樓：匿名使用者
高溫電阻率測量系統主要是測半導體材料、絕緣材料、導電材料的電阻率。高溫電阻率測量系統是一個統稱，分別包含了：高溫半導體材料電阻率測量系統、高溫絕緣材料電阻率測量系統、高溫導電材料電阻率測量系統三個電阻率測量系統系列。
其中高溫半導體材料電阻率測量系統就是我們常說的hrms-800高溫四探針測量系統，主要是測量半導體薄膜材料的電阻、電阻率和方塊電阻；hrms-900高溫絕緣材料電阻率測量系統，主要是測量無極絕緣材料、有機絕緣材料、複合絕緣材料等絕緣材料的電阻、電阻率和體積電阻，以及壓電材料的熱激勵電流的測量；hrms-1000高溫導電材料電阻率測量系統，主要測量導電材料的電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。
11樓：匿名使用者
體積多大，如果不大的話，一般計量機構的熱工儀表室即可
四探針法電阻率測試，四探針有什麼特點？
直流四探針法測量半導體的電阻率的原理是什麼？有什麼需要注意的嘛
12樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀也有很多種，例如高溫的或者常溫的，不同的四探針電阻率測試儀
版針對不同的材料
權測量的引數也是不同的。舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電效能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
什麼高溫電阻率測試儀可以同時測電阻、電阻率、方塊電阻？
13樓：匿名使用者
高溫電阻率測試儀的說法範圍太廣，你說的應該是高溫四探針電阻率測試儀又叫高溫四探針電阻率測量系統，可以同時測電阻、電阻率和方塊電阻。
高溫電阻率測試儀根據測量材料的不同有：高溫半導體材料四探針測量系統、高溫絕緣材料電阻率測量系統、高溫導電材料電阻率測量系統，這3種高溫電阻率測試儀都可以測量電阻和電阻率。而在這其中高溫半導體材料四探針測量系統可以測量方塊電阻，高溫絕緣材料電阻率測量系統可以測量體積電阻。
這種系列性的裝置，應該只有材料電學效能表徵和測量行業的專業研發企業才有。國內的話，目前只有佰力博一家，國外的話，常溫的應該是比較多的。
14樓：匿名使用者
我知道寧波有，瑞柯偉業，高溫可以做到200度--- 1600度四探針方塊電阻測試方法，
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四探針電阻率測試儀也有很多種,例如高溫的或者常溫的,不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的引數也是不同的。電阻是一個物理量,在物理學中表示導體對電流阻礙作用的大小,它的英文名稱為resistance,通常縮寫為r,它是導體的一種基本性質,與導體的尺寸 材料 溫度有關。四探針法中,方塊電阻就是表...
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