1樓：park帕克原子力顯微鏡
原子力顯微鏡的探針有很多種類，不同型別的顯微鏡探針是不一樣的，所以每一種探針都有自己的優缺點。想要了解的更詳細，可以詢問park原子力顯微鏡。park nx10是全球唯一乙個真正非接觸式原子力顯微鏡，在延長探針使用壽命的同時，還能良好地保護您的樣品不受損壞。
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afm探針基本都是由mems技術加工si 或者si3n4來製備。探針針尖半徑一般為10到幾十nm。微懸臂通常由乙個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的矽片或氮化矽片製成。
典型的矽微懸臂大約100μm長、10μm寬、數微公尺厚。利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發了各種不同應用領域的顯微鏡，如afm（範德法力），靜電力顯微鏡efm（靜電力）磁力顯微鏡mfm（靜磁力）側向力顯微鏡lfm（探針側向偏轉力）等，因此有對應不同種類顯微鏡的相應探針。
想要了解原子力顯微鏡的相關資訊，推薦諮詢park原子力顯微鏡。park成立30多年來，始終致力於奈米領域的形貌&力學測量和半導體先進製成工藝的計量的新技術新產品的開發。park獨有的技術是將xy和z掃瞄器分離，實現探針與樣品間的真正非接觸，避免形貌掃瞄過程中因探針磨損帶來的影象失真，快速成像還可以大大提高測試效率，降低實驗測試成本。
2樓：卡哇伊
afm探針基本都是由mems技術加工 si 或者 si3n4來製備。探針針尖半徑一般為10到幾十nm。微懸臂通常由或凱攜乙個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的矽片或氮化矽片製成。
典型的矽微懸孫弊臂大約100μm長、10μm寬、數微公尺厚。
利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發了各種不同應用領域的顯微鏡，如afm（範德法力），靜電力顯微鏡efm（靜電力）磁力顯微鏡mfm（靜磁力）側向力顯微鏡lfm（探針側向偏轉力）等， 因此有對應不同種類顯微鏡的相應探針。
原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種：
1）、 非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針：最常用的產品，解像度高，使用壽命一般。使用過程中探針不斷磨損，解像度很容易下降。主要應用與表面形貌觀察。
2）、 導電探針：通過對普通探針鍍10-50奈米厚的pt（以及別的提高鍍層結合力的金屬，如cr，ti，pt和ir等）得到。導電探針應用於efm，kfm，scm等。
導電探針解像度比tapping和contact模式的探針差，使用時導電鍍層容易脫落，導電性難以長期保持。導電針尖的新產品有碳奈米管針尖，金剛石鍍層針尖，全金剛石針尖，全金屬絲針尖，這些新技術克服了普通導電針尖的短壽命和解像度不高的缺點。
3）、磁性探針：應用於mfm，通過在衫伏普通tapping和contact模式的探針上鍍co、fe等鐵磁性層製備，解像度比普通探針差，使用時導電鍍層容易脫落。
4）、大長徑比探針：大長徑比針尖是專為測量深的溝槽以及近似鉛垂的側面而設計生產的。特點：
不太常用的產品，解像度很高，使用壽命一般。技術引數：針尖高度》 9μm；長徑比5:
1；針尖半徑< 10 nm。
5）、類金剛石碳afm探針/全金剛石探針：一種是在矽探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜，另外一種是全金剛石材料製備（**很高）。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命。
還有生物探針（分子功能化），力調製探針，壓痕儀探針。
原子力顯微鏡探針的介紹
3樓：手機使用者
原子力顯微鏡（afm),是一種具有原子解像度的表面形貌、電磁效能分析的重要儀器。首臺原子力顯微鏡在1985年研發成功，其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多種模式。afm探針由於應用範圍僅限於原子力顯鉛睜微鏡，屬於高科技儀器的耗材，應用領域不廣，全世界的使用量也不多。
主要的生產廠家分佈在德國，瑞森公升士，保加利亞，槐春歲美國等。由於的探針壽命短，解像度不高也不穩定且一致性差，各國都在開發新型探針。
雙探針原子力顯微鏡與單探針有什麼區別
4樓：匿名使用者
原子力顯微鏡：是一種利用原子，分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的新型實驗技術。它有一根奈米級的探針，被固定在可靈敏操控的微公尺級彈性懸臂上。
當探針很靠近樣品時，其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會使懸臂彎曲，偏離原來的位置。根據掃瞄樣品時探針的偏離量或振動頻率重建三維影象。就能間接搜棗困獲得樣品表面的形貌或原子成分。
詳細。圖1. 雷射檢測原子力顯微鏡探針工作示意圖。
原子力顯微鏡的基本原理是：將乙個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由於針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃瞄時控制這種力的恆定，帶有針尖的微懸臂將對應於針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直於樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應於掃瞄各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的資訊。
下面，我們以雷射檢測原子力顯微鏡（atomic force microscope employing laser beam deflection for force detection,laser-afm）——掃瞄探針顯微鏡家族中最常用的一種為例，來詳細說明其工作原理。 如圖1所示，二極體雷射器（laser diode）發出的雷射束經過光學系統聚焦在微懸臂（cantilever）背面，並從微懸臂背面反射到由光電二極體構成的光斑位置檢測器（detector）。在樣品掃瞄時，由於樣品表面的原子與微懸臂探針尖端的原子間的相互作用力，微懸臂將隨樣品表面形貌而彎曲起伏，反射光束也將隨之偏移，因而，通過光電二極體檢測光斑位置的變化，就能獲得被測樣品表面形貌的資訊。
子力顯微鏡——原理圖。
在系統檢測成像全過程中，探針和被測樣品間的距離始終保持在奈米（10e-9公尺）量級，距離太大不能獲得樣品表面的資訊，距離太小會損傷探針和被測樣品，反饋迴路(feedback）的作用就是在工作過程中，由探針得到探針-樣品相互作用的強度，來改變加在樣品掃瞄器垂直方向的電壓，從而使樣品伸縮，調節探針和被測樣品間的距離，反過來控世念制探針-樣品相互作用的強度巖廳，實現反饋控制。因此，反饋控制是本系統的核心工作機制。本系統採用數字反饋控制迴路，使用者在控制軟體的引數工具欄通過以參考電流、積分增益和比例增益幾個引數的設定來對該反饋迴路的特性進行控制。
原子力顯微鏡探針的展望
5樓：卯梓烴
新型探針的開發方向包括：超細超尖和超長壽命探針。提高電、磁效能探針的解像度和使用壽命。
探針的奈米化，特別是cnt修飾和功能奈米材料的修飾將會極大提高探針的各項效能也會進一步推動spm更廣泛深入的應用。
原子力顯微鏡的優缺點
6樓：暢飛用
afm系統使用壓電陶瓷管制作的掃瞄器精確控制微小的掃瞄移動。壓電陶瓷是一種效能奇特的材料，當在壓電陶瓷對稱的兩個端面加上電壓時，壓電陶瓷會按特定的方向伸長或縮短。而伸長或縮短的尺寸與所加的電壓的大小成線性關係。
即可以通過改變電壓來控制壓電陶瓷的微小伸縮。通常把三個分別代表x，y，z方向的壓電圓搭陶瓷塊組成三角架的形狀，通過控制x，y方向伸縮達到驅動探針在樣品表面掃瞄的目的；通過控制z方向壓電陶瓷的伸縮達到控制探針與樣品之間距離的目的。
原子力顯微鏡（afm）便是結合以前森上三個部分來將樣品的表面特性呈現出來的：在原子力顯微鏡（afm）的系統中，使用微小懸臂（cantilever）來感測針尖與樣品之間的相互作用，這作用力會使微懸臂擺動，再利用雷射將光照射在懸臂的末端橘悔拿，當擺動形成時，會使反射光的位置改變而造成偏移量，此時雷射檢測器會記錄此偏移量，也會把此時的訊號給反饋系統，以利於系統做適當的調整，最後再將樣品的表面特性以影像的方式給呈現出來。
新型探針問世 測量原子力有了奈米「觸角」
7樓：青檸姑娘
原子力顯微鏡被用於研究物體接觸時的「力量」，其核心構件探針正做如同昆蟲的「觸角」，能夠將樣品表面的作用力轉換成微懸臂樑的彎曲，進而通過雷射束探測到。其中球形原子力探針在形變、硬度、力學屬性等方面更具優勢。然而傳統球形原子力探針尺寸為1—10微公尺，在奈米尺度的測量存在盲區。
與此同時，球形探針通過膠水貼上，貼上位置因難以把控而會影響精確度，遇到高溫或液體容易脫落。
高能氦閉源離子束可以聚焦成為直徑在奈米左右的束斑，像一把超級小的刀，能夠將材料在奈米尺度任意切割，但在矽材料襯底中注入高能氦離子束會形成隆起。」胡歡說，研究組進行了第乙個利用氦離子隆起效應制造奈米球探針的實驗。通過聚焦離子刻蝕在普通原子力顯微鏡探針上雕刻出乙個平臺，在平臺上精準定位後注入高能氦離子束，使得單晶矽隆起，實現了一種穩定可靠的奈米球探針技術製造工藝，製成了具有高解像度、高準舉態衡確性、耐高溫的球形探針，針尖的直徑可在100奈米到1微公尺之間精確調控。
胡歡表示，該技術有利於促進奈米摩擦學、生物材料的測試和研發，對材料學、摩擦學、生物醫學都會起到很好的推動作用。研究**刊發於學術期刊《蘭格繆爾》。
顯微鏡對光的步驟，顯微鏡對光的步驟
我不抄知道你想問的是不是顯微鏡對焦的方法。下面把顯微鏡的使用方法都幫你說一下，你看看有沒有幫助 1.調節光圈。選擇合適的光圈 光線好用小孔光圈，光線不好用通光量大的光圈，依次往更大的換 從目鏡能看見一個白亮的視野即可。2.將裝片放到載物臺上，一般注意保持要觀察組織在通光孔 這樣才能成像。3.調節粗調...
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顯微鏡的高,低倍鏡怎麼區分,低倍顯微鏡與高倍顯微鏡有什麼區別
低倍鏡 高倍鏡 物鏡與裝片的距離 遠 近 所看到細胞的數目及大小 數目多形態小 數目少形態大回 視野明暗答大小 明 暗 清晰度 更清晰 低倍顯微鏡還是高倍顯微鏡的視野且明亮?為什麼?1.低倍顯微鏡視野大且明亮。2.原因 1 低倍下視野直徑大,在光源亮度一定的情況下,視野面積 直徑 大的低倍鏡進入的光...