1樓：匿名使用者
以前也畢設也做過電鏡,是大腸桿菌的細胞表面的奈米金屬顆粒,掃描電鏡,透射電鏡兩個都做了.最後寫**的時候就用了掃描電鏡的圖,你說看主要做形貌,凡是需要看物質表面形貌的,都可以用掃描電鏡,不過要要注意掃描電鏡目前解析度,看看能否達到實驗要求.
兩種測試手段的適用情況
凡是需要看物質表面形貌的,都可以用掃描電鏡,不過最好的掃描電鏡目前解析度在0.1nm左右.如果需要進一步觀察表面形貌,需要使用掃描探針顯微鏡spm（afm,stm).
如果需要對物質內部晶體或者原子結構進行了解,需要使用tem.例如鋼鐵材料的晶格缺陷,細胞內部的組織變化.當然很多時候對於nm 材料的形態也使用tem觀察.
區別掃描電鏡觀察的是樣品表面的形態,而透射電鏡是觀察樣品結構形態的.一般情況下,透射電鏡放大倍數更大,真空要求也更高.
掃描電鏡可以看比較「大」的樣品,最大可以達到直徑200mm以上,高度80mm左右,而透射電鏡的樣品只能放在直徑3mm左右的銅網上進行觀察.
掃描電鏡與透射電鏡的區別？
2樓：說了你會懂麼
1、結構差異:
主要體現在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發射電子，經過聚光鏡，然後穿透樣品後，有後續的電磁透鏡繼續放大電子光束，最後投影在熒光螢幕上;掃描電鏡的樣品在電子束末端，電子源在樣品上方發射的電子束，經過幾級電磁透鏡縮小，到達樣品。當然後續的訊號探側處理系統的結構也會不同，但從基本物理原理上講沒什麼實質性差別。
2、基本工作原理:
透射電鏡：電子束在穿過樣品時，會和樣品中的原子發生散射，樣品上某一點同時穿過的電子方向是不同，這樣品上的這一點在物鏡1-2倍焦距之間，這些電子通過過物鏡放大後重新匯聚，形成該點一個放大的實像，這個和凸透鏡成像原理相同。這裡邊有個反差形成機制理論比較深就不講，但可以這麼想象，如果樣品內部是絕對均勻的物質，沒有晶界，沒有原子晶格結構，那麼放大的影象也不會有任何反差，事實上這種物質不存在，所以才會有這種儀器存在的理由。
掃描電鏡：電子束到達樣品，激發樣品中的二次電子，二次電子被探測器接收，通過訊號處理並調製顯示器上一個畫素髮光，由於電子束斑直徑是奈米級別，而顯示器的畫素是100微米以上，這個100微米以上畫素所發出的光，就代表樣品上被電子束激發的區域所發出的光。實現樣品上這個物點的放大。
如果讓電子束在樣品的一定區域做光柵掃描，並且從幾何排列上一一對應調製顯示器的畫素的亮度，便實現這個樣品區域的放大成像。
3、對樣品要求
(1)掃描電鏡
sem制樣對樣品的厚度沒有特殊要求，可以採用切、磨、拋光或解理等方法將特定剖面呈現出來，從而轉化為可以觀察的表面。這樣的表面如果直接觀察，看到的只有表面加工損傷，一般要利用不同的化學溶液進行擇優腐蝕，才能產生有利於觀察的襯度。不過腐蝕會使樣品失去原結構的部分真實情況，同時引入部分人為的干擾，對樣品中厚度極小的薄層來說，造成的誤差更大。
(2)透射電鏡
由於tem得到的顯微影象的質量強烈依賴於樣品的厚度，因此樣品觀測部位要非常的薄，例如儲存器器件的tem樣品一般只能有10～100nm的厚度，這給tem制樣帶來很大的難度。初學者在制樣過程中用手工或者機械控制磨製的成品率不高，一旦過度削磨則使該樣品報廢。tem制樣的另一個問題是觀測點的定位，一般的制樣只能獲得10mm量級的薄的觀測範圍，這在需要精確定位分析的時候，目標往往落在觀測範圍之外。
目前比較理想的解決方法是通過聚焦離子束刻蝕(fib)來進行精細加工。
3樓：趣事百料
掃描電鏡和透射電鏡這兩種裝置都使用電子來獲取樣品的影象，它們的主要組成部分是相同，下面就介紹一下兩者之間的區別
工作原理上的區別
掃描電鏡（sem）使用一組特定的線圈以光柵樣式掃描樣品並收集散射的電子。而透射電鏡（tem）是使用透射電子，收集透過樣品的電子。 因此，透射電鏡（tem）提供了樣品的內部結構，如晶體結構，形態和應力狀態資訊，而掃描電鏡（sem）則提供了樣品表面及其組成的資訊。
這兩種裝置最明顯的區別是它們可以達到的最佳空間解析度，掃描電鏡（sem）的解析度被限制在0.5nm，而隨著最近在球差校正透射電鏡（tem）中的發展，已經報道了其空間解析度甚至小於50pm。
樣品製備上的區別
掃描電鏡（ sem）的樣品很少需要或不需要進行樣品製備，並且可以通過將它們安裝在樣品杯上直接成像。 透射電鏡（tem）的樣品製備是一個相當複雜和繁瑣的過程，只有經過培訓和有經驗的使用者才能成功完成。 樣品需要非常薄，儘可能平坦，並且製備技術不應對樣品產生任何偽像。
操作上的區別
掃描電鏡（sem）通常使用15kv以上的加速電壓，而透射電鏡（tem）可以將其設定在60-300kv的範圍內。
放大倍數上的區別
透射電鏡（tem）提供的放大倍數相當高。透射電鏡（tem）可以將樣品放大5000萬倍以上，而對於掃描電鏡（sem）來說，限制在1-2百萬倍之間。
擴充套件資料
從所提到的一切來看，顯然沒有「更好」的技術；這完全取決於需要的分析型別。 當使用者想要從樣品內部結構獲得資訊時，透射電鏡（tem）是最佳的選擇，而當需要樣品表面資訊時，掃描電鏡（sem）是首選。 當然主要決定因素是兩個系統之間的巨大**差異，以及易用性。
透射電鏡（tem）可以為使用者提供更多的分辨能力和多功能性，但是它們比掃描電鏡（sem）更昂貴且體型較大，需要更多操作技巧和複雜的前期制樣準備才能獲得滿意的結果。
4樓：匿名使用者
掃描電鏡主要觀察表面形貌（二次電子像），還可以得到反映成份資訊的背散射電子像。掃描電鏡還可以接一些附件，如eds進行元素成份分析；ebds進行晶體結構分析等等。
透射電子顯微鏡解析度比掃描電鏡高（如掃描電鏡最高1nm，透射電鏡0.2nm甚至更高），主要可以進行內部形貌觀察，晶體結構分析，特別是微區（微米、奈米）的像觀察和結構分析，可以得到原子尺度的像。如配備一定附件，如eds進行微區元素成份分析，stem可以得到更容易解釋的像，eels可以進行化學狀態分析等等 。
通俗的說
掃描電鏡是相當與對物體的照相，得到的是表面的"只是表面的立體三維的圖象"，因為掃描的原理是「感知」那些物提被電子束攻擊後發出的此級電子；
而透射電鏡就相當於普通顯微鏡，只是用波長更短的電子束替代了會發生衍射的可見光，從而實現了顯微，是二維的圖象，會看到表面的圖象的同時也看到內層物質，就像我們拍的x光片似的，內臟骨骼什麼的都重疊著顯現出來。
總的來說就是透射能看見內部，掃描是不能看見內部，只侷限與表面。
另外，從樣品製備和觀察操作來講，sem較易。但tem比sem可以看到更為精細的結構！
5樓：學無止境
掃描電鏡，是觀察樣品表面的結構特徵；
透射電鏡，是觀察樣品的內部精細結構。
6樓：匿名使用者
透射電鏡tem是透射電子成像
掃描電鏡sem是用二次電子加背散射電子成像
7樓：匿名使用者
通俗的說
掃描電鏡是相當與對物體的照相 得到的是表面的 只是表面的 立體三維的圖象
因為掃描的原理是「感知」那些物提被電子束攻擊後發出的此級電子而透射電竟就相當於普通顯微鏡 只是用波長更短的電子束替代了會發生衍射的可見光 從而實現了顯微 是二維的圖象 會看到表面的圖象的同時也看到內層物質 就想我們拍的x光片似的 內臟骨骼什麼的都重疊著顯現出來
總結就是透射雖然能看見內部但是不立體
掃描立體但是不能看見內部 只侷限與表面
8樓：匿名使用者
可以瞭解一下國產的掃描電子顯微鏡網頁連結
sem與tem帶的edax的解析度是多少
9樓：雲南新華電腦學校
sem的是微米級，tem估計是幾十奈米到百奈米
概率論，下面這道題在不同的上有兩種解法，兩種解法都有看不
1紅線左邊是多求了兩次積分後面加了兩個求導符號還原這是逐項求積法，後面是等比數列求和公式啊 2和1一樣的 大學裡面高等數學都學的什麼啊 在中國理工科各類專業的學生 數學專業除外，數學專業學數學分析 學的數學較難，課本常稱 高等數學 文史科各類專業的學生，學的數學稍微淺一些，課本常稱 微積分 理工科的...
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讀音 x n 同音字 訊 x n 馴 x n 蕈 x n 名 1.樹 常綠喬木，高十餘米。葉側卵形，結蒴果。為優質木材。2.生長在樹林裡或草地上的某些高等菌類植物，傘狀，種類很多，有的可食，有的有毒。唐韻 慈荏切，尋上聲。菌生木上。又 玉篇 蕈，地菌也。又水名。水經注 洮水又北出門峽，歷求厥川，蕈川...
兩種不同牌子記憶體條是否可以混用不同品牌的記憶體條可以混用嗎？
1 不同品牌 的記憶體條裝一起，有可能可以正常使用，也有可能不能正常使用，2 不同品牌的記憶體條裝一起，如果兩個品牌的記憶體條恰巧使用同品牌，同頻率的記憶體顆粒，則能正常使用，反之則不能正常使用，3 不同品牌的記憶體條裝一起，可以正常使用的概率相對較小，因為要遇到相同記憶體顆粒的機率非常小。4 增加...